Описание продукта
Main Advantages:
High light output
High energy resolution
High density
No self-radiation
No deliquescing
Typical applications:
Computed tomography scan (CT)
Positron emission tomography (PET)
Single-photon emission computerted tomography imaging (SPECT)
particle accelerator
X-ray and y-ray detection
Material Properties:
Chemical Formula | Ce: Gd3Al2Ga3O12 |
Плотность | 6.63g/cm³ |
Hardness | 8 Mohs |
Температура плавления | 1850℃ |
Atomic Number | 54.4 |
Growth Method | Czochralski |
Expanding Coefficient | TBA*10-6 |
Технический параметр
Кристро предлагает
Orientation | <0.5° |
Thickness/Diameter Tolerance | ±0.05mm |
Параллелизм | <30″ |
Перпендикулярность | <15′ |
Surface Quality | 10-5 |
Чистая диафрагма | >90% |
Chamfer | <0.1mm@45° |
Dimensions | Max Φ 60mm |
Примечание. Вышеуказанные параметры приведены только для справки. Для уточнения ваших конкретных требований свяжитесь с нашим торговым представителем.