Multiwellenlängen-Laser-Planar-Interferometer

Basierend auf dem Prinzip der Fizeau-Interferenz und der mechanischen Phasenverschiebung und ausgestattet mit dem selbst entwickelten superachromatischen Strahlaufweitungs- und Abbildungssystem unterstützt das Interferometer das Plug-and-Play einer Laserquelle mit einer Arbeitswellenlänge im Bereich von 600–1600 nm.

Produktbeschreibung

Basierend auf dem Prinzip der Fizeau-Interferenz und der mechanischen Phasenverschiebung und ausgestattet mit dem selbst entwickelten superachromatischen Strahlaufweitungs- und Abbildungssystem unterstützt das Interferometer das Plug-and-Play einer Laserquelle mit einer Arbeitswellenlänge im Bereich von 600–1600 nm.

Hauptvorteile: 

1.Beim Wechsel der Laserquelle mit einer anderen Wellenlänge ist keine Anpassung erforderlich.
2. Das Interferometer kann mit selbstentwickeltem Absoluttestzubehör ausgestattet werden, um den absoluten Oberflächenfehler einer Oberfläche mit einer Genauigkeit von besser als λ/40 zu ermitteln.

Technische Parameter

Crystro-Angebote

Anwendungen

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